Rasterelektronenmikroskopie

Feldemissionsrasterelektronenmikroskop SUPRA 25, Fa. Zeiss

Ausstattung Supra25

  • GEMINI-Optik, InLens-Detektor, 4-Quadranten-Rückstreudetektor, SE-Detektor (Everhart-Thornley)
  • Beschleunigungsspannung 0.1 - 30kV, Untersuchung auch von nicht oder nur bedingt leitfähigen Proben bei sehr niedrigen Beschleunigungsspannungen möglich 
  • Compu-euzentrischer Probentisch zur Anfertigung von Stereobildpaaren durch euzentrisches Verkippen der Probenoberfläche
EDX (Fa. Röntec/Bruker axs)

Röntgen-Mikroanalyse (EDX)

  • Quantax-System (Fa. Bruker)
  • stickstofffreier SD (Silicon drift) XFlash-Detektor 3001
  • spektrale Auflösung ‹=133 eV (@MnKα, 1000 cps)