Rasterelektronenmikroskopie
Ausstattung Supra25
- GEMINI-Optik, InLens-Detektor, 4-Quadranten-Rückstreudetektor, SE-Detektor (Everhart-Thornley)
- Beschleunigungsspannung 0.1 - 30kV, Untersuchung auch von nicht oder nur bedingt leitfähigen Proben bei sehr niedrigen Beschleunigungsspannungen möglich
- Compu-euzentrischer Probentisch zur Anfertigung von Stereobildpaaren durch euzentrisches Verkippen der Probenoberfläche
Röntgen-Mikroanalyse (EDX)
- Quantax-System (Fa. Bruker)
- stickstofffreier SD (Silicon drift) XFlash-Detektor 3001
- spektrale Auflösung ‹=133 eV (@MnKα, 1000 cps)